1、零点校正
由于超声波经过保护膜、耦合剂(直探头)或有机玻璃楔块(斜探头)进入待测工件的，缺点定位时，需将这局部声程移去，才干得到超声波在工件中实践声程。
零点通常是经过已知声程的试块进行调理，如CSK-IA试块中的R100圆弧面(斜探头)或深100mm的大平底(直探头)。
2、K值校正
由于斜探头探伤时不只要知道缺点的声程，更要得出缺点的笔直和水平方位，因而斜探头还要**测定其K值(折射角)才干**地对缺点进行定位。
K值通常是经过对具有已知深度孔的试块来调理，如用CSK-IA试块50或1.5的孔。
3、定量校正
定量调理通常选用AVG(直探头)或DAC(斜探头)。